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      X射線熒光分析儀的原理及運用

      發布時間: 2022-08-01  點擊次數: 1308次

      X射線熒光分析儀的原理

      關于熒光 X 射線分析

      熒光 X 射線的產生

      X射線熒光分析的產生

      當樣品被初級 X 射線照射時,電子被 X 射線的能量翻轉,原子被激發。外層電子落到那里,發射出與能量差相對應的熒光X射線。定性分析是可能的,因為此時產生的熒光 X 射線具有元素的能量。也可以從熒光 X 射線的強度進行定量分析。

      X射線熒光分析儀的運用

      環境

      • 土壤中的重元素分析

      • 焚燒灰、工業廢物、廢水、粉塵、電鍍液、污泥

      • RPF、礫石、爐渣等的分析

      電子材料/零件

      • 電子零件中有害重金屬的測量

      • 半導體和磁盤的薄膜厚度測量

      • 電極多層厚度和結構分析

      • 電子零件鍍層厚度和結構的分解

      資源/能源

      • 礦石勘探

      • 粘土礦物、土壤、巖石和回收材料的分析

      • 分析果樹和煙草等植物的葉子

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      • 重油中 S、V 和重金屬的分析

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      • 醫藥原料、中間產品、成品分析

       機器

      • 材料/零件材料的判別分析

      • 表面處理劑分析

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      • 打印機彩色墨水的管理與分析

      • 塑料中的硅分析

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