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快速冷卻/快速加熱樣品裝置：提升觀察和分析設備的性能

發布時間： 2023-08-25　　點擊次數： 500次

引言：
隨著科學技術的不斷發展，觀察和分析設備在各個領域中發揮著越來越重要的作用。為了滿足對快速冷卻和快速加熱的需求，我們開發了一種創新的腔室單元，可應用于激光坐標測量機、激光顯微鏡、顯微鏡和X射線分析設備等各種設備中。本文將介紹這款快速冷卻/快速加熱樣品裝置的標準設備配置、產品規格及性能以及測試數據。
標準設備配置：
我們的快速冷卻/快速加熱樣品裝置的標準設備配置如下：
室模型：20mm X 20mm（透射觀察孔：φ2mm）
樣品氣氛：大氣釋放型（可選真空型）
工作溫度范圍：-150℃至400℃
溫度調節精度：±0.2°C至0.7°C（工作溫度范圍-150°C至400°C，設定溫度穩定時）
加熱/冷卻性能：3.5分鐘內從20°C冷卻至-150°C，1.5分鐘內從20°C升溫至250°C，實現最大限度減少過沖/下沖和振蕩的溫度控制性能。
產品規格及性能：
我們的快速冷卻/快速加熱樣品裝置具有以下產品規格及性能：
室模型大?。?0mm X 20mm，透射觀察孔直徑為φ2mm，可滿足多種觀察和分析需求。
樣品氣氛選項：可選擇大氣釋放型或真空型，以適應不同的實驗條件。
廣泛的工作溫度范圍：從-150℃至400℃，可滿足多種樣品的快速冷卻和快速加熱需求。
準確的溫度調節精度：溫度調節精度在±0.2°C至0.7°C之間，確保在工作溫度范圍內的穩定性。
快速的加熱/冷卻性能：僅需3.5分鐘從20°C冷卻至-150°C，1.5分鐘從20°C升溫至250°C，可極大地提高工作效率。
溫度控制性能：通過減少過沖/下沖和振蕩，確保溫度控制穩定性，提高觀察和分析的準確性。
測試數據：
我們對快速冷卻/快速加熱樣品裝置進行了一系列測試，并得到了以下數據：
冷卻性能測試結果顯示，從20°C冷卻至-150°C只需3.5分鐘，實現了快速冷卻的要求。
加熱性能測試結果顯示，從20°C升溫至250°C僅需1.5分鐘，滿足了快速加熱的需求。
溫度控制性能測試結果顯示，在設定溫度穩定時，溫度調節精度可達到±0.2°C至0.7°C，確保了溫度控制的準確性。
結論：
我們開發的快速冷卻/快速加熱樣品裝置可有效提升觀察和分析設備的性能。其標準設備配置、廣泛的工作溫度范圍以及快速的加熱/冷卻性能使其成為各類科學實驗和研究的理想選擇。更重要的是，其準確的溫度控制性能確保了觀察和分析結果的準確性。我們相信，這款快速冷卻/快速加熱樣品裝置將為科學研究領域帶來更多新的可能性。

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