手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500
手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500
日本進口fischer手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500
特征
- 便攜式熒光X射線膜厚測量及材料分析測量裝置
- 內置硅漂移檢測器，精度高，檢測靈敏度高
- 無需移動或切割待測物體即可在現場進行快速、無損的檢測
主要規格
| 測量元件范圍 | 小號 (16) - 小號 (92) |
|---|---|
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 目標 |
| 初級過濾器 | 1種固定 |
| 準直器數量/尺寸 | 1型固定/Φ2mm |
| 測量儀本體尺寸 | 210 x 75 x 230mm（寬 x 深 x 高） |
| 測量箱尺寸 | 380 x 220 x 385mm（寬 x 深 x 高） |
| 測量室尺寸 | 150 x 330 毫米 |
| 電池工作時間 | 約6小時 |
主要應用
- 機械零件、外殼等大型零件的膜厚測量
- 貴金屬手持測量
- 攜帶到電鍍廠現場測量
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